Proof Of Concept: Testchips belegen Machbarkeit von 3D X-DRAM

Auf dem Papier klang das Konzept des sogenannten 3D X-DRAM von NEO Semiconductor schon immer gut. Jetzt wurde bewiesen, dass sich das neue Speicherchipdesign auch herstellen lässt und die erforderte Leistung erbringt. Unterstützt wird die Entwicklung vom Acer-Gründer Stan Shih.

Quelle: Feed/Computerbase.de [ mehr ]